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Cet instrument permet la mesure de la polarisation d'un faisceau lorsqu'il est réfléchi par un échantillon. Le changement d'état de la polarisation entre le faisceau incident et celui réfléchi par l'échantillon est alors mesuré, puis modélisé par un logiciel de calcul. Comme le changement de polarisation est dépendant de la nature et de la structure de l'échantillon, ce calcul permet finalement de remonter aux propriétés optiques de ce dernier, plus précisément de sa fonction diélectrique.
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Jérôme PLAIN - Directeur
03 25 71 84 48
Jérémie BEAL - Ingénieur
03 51 59 11 61
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