Le microscope à force atomique (AFM) Bruker Dimension Icon est l'équipement de référence pour l'imagerie et la caractérisation de surfaces à résolution nanométrique et atomique. Il permet d'explorer la topographie, les propriétés mécaniques, électriques ou magnétiques locales de matériaux nanostructurés.
Configuration et performances
- Plateforme de balayage à pointe adaptée aux échantillons de grande taille
- Détection compensée en température et bruit — résolution sub-angström sur l'axe Z, de l'ordre de l'angström sur les axes X et Y
- Modes d'imagerie variés accessibles selon les besoins expérimentaux
�� Fiche technique PDF
Compétence associée
Imagerie & caractérisation → Caractéristiques techniques
| Modèle | AFM Dimension Icon — Bruker |
| Résolution axe Z | Sub-angström |
| Résolution axes X/Y | De l'ordre de l'angström |
| Modes d'imagerie | Contact, tapping, modes électriques et magnétiques |
Domaines d'application
› Couches minces semiconductrices ou diélectriques
› Nanostructures fonctionnalisées
› Matériaux 2D — graphène, dichalcogénures de métaux de transition
› Dispositifs microélectroniques
Besoin d'une caractérisation de surface à l'échelle nanométrique ?
Notre équipe vous accompagne dans la définition du protocole adapté à votre projet.
Nous contacter →Notre équipe vous accompagne dans la définition du protocole adapté à votre projet.
mise à jour le 19 juin 2026