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Microscopie à force atomique sous atmosphère contrôlée

Cet instrument (modèle Dimension) a été acheté à la société Veeco (nouvellement Brucker Nano) et est équipé avec tous les accessoires pour faire des mesures électriques locales (C-AFM, EFM, KFM, SCM) pour des potentiels de polarisation allant jusqu’à 100V (développement « fait maison ») ou des mesures en milieu fluide, pour des atmosphères à humidité contrôlée.